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本发明的光子计数探测器系统，通过光子计数探测器的光子计数专用芯片采集各能级区间的计数与累计过阈时间，使其在低剂量率X射线条件下采集图像时，既可以统计每个能量区间内光子数目，也可以统计每个能量区间内光子总能量，为能谱图像提供了更丰富的能量信息...
该专利属于北京富通康影科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京富通康影科技有限公司授权不得商用。

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