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本申请公开了一种面板缺陷的检测方法、训练方法、装置、设备及介质，旨在解决现有面板阵列制程中缺陷检测效率较低的技术问题，涉及面板图像处理技术领域，所述面板缺陷的检测方法，包括以下步骤：获取待检测面板的目标图像和所述待检测面板对应的标准图像；所...
该专利属于成都数之联科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都数之联科技股份有限公司授权不得商用。

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