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本实用新型公开一种MCU的IO接口检测电路及MCU的ATE自动化设备。该检测电路包括处理模块和通信模块；用于检测待检测MCU的IO连通性，待检测MCU包括IO模块和比较模块；通信模块电连接于待检测MCU与处理模块之间，处理模块通过通信模块对...
该专利属于郑州大学所有，仅供学习研究参考，未经过郑州大学授权不得商用。

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