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本实用新型公开了ADC芯片测试用电连接器，具体涉及芯片测试技术领域，现有的芯片测试电连接器上的芯片连接件在不使用时会有的灰尘落在其表面，影响连接件的使用寿命，连接插头在在使用过程中容易因意外的拉动使得连接位置的插头出现松动，进而使得连接处出...
该专利属于劳瑞科技（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过劳瑞科技（苏州）有限公司授权不得商用。

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