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本实用新型提供一种低温测试系统，涉及低温测试技术领域。低温测试系统，其特征在于，包括制冷腔、测试腔、制冷机和热开关；所述制冷腔和所述测试腔相互隔离，所述测试腔用于容置样品；所述制冷机和所述热开关设置于所述制冷腔内，所述热开关分别与所述制冷机...
该专利属于中国科学院理化技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院理化技术研究所授权不得商用。

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