下载基于串行接口的存储测试方法、存储芯片及相关设备的技术资料

文档序号:35975564

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本申请实施例通过提供一种基于串行接口的存储测试方法及相关设备,实现了测试过程中的问题快速定位。该方法包括:通过第一线路执行读写操作,并获取对应的第一读写信息,第一线路包括用于模拟串行接口及中间协议层的第一模拟模块、存储控制模块及存储模块;通...
该专利属于西安紫光国芯半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过西安紫光国芯半导体有限公司授权不得商用。

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