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本发明属于电磁兼容测试领域，具体地说，涉及一种利用紧缩场完成天线谐波乱真辐射发射类测试的测试方法，该方法可用于替代传统的远场测试法，该方法包括：步骤1)布置紧缩场测试系统；步骤2)配置测试系统的校验路径；步骤3)计算测试系统的空损L
该专利属于中国电子技术标准化研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子技术标准化研究院授权不得商用。

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