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在半导体制造过程中用于确定对于一组衬底的检查策略的方法技术
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下载在半导体制造过程中用于确定对于一组衬底的检查策略的方法的技术资料
文档序号:35731445
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描述了一种用于确定针对至少一个衬底的检查策略的方法,所述方法包括:使用预测模型,基于与所述衬底相关联的预处理数据以及与所述至少一个衬底相关联的任何可用的后处理数据中的一者或两者来量化与顺应品质要求的预测相关的顺应性指标的顺应性指标值;和基于...
该专利属于ASML荷兰有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过ASML荷兰有限公司授权不得商用。
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