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本公开涉及光电探测技术领域，具体而言，涉及一种探测基板、探测基板的制造方法、平板探测器及平板探测器的制造方法。探测基板包括：基板(10)，包括探测区(D)、绑定区(C)、可控通断区(B)和切割区(A)；多个探测单元，设于所述基板(10)上，...
该专利属于北京京东方传感技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京京东方传感技术有限公司授权不得商用。

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