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本发明属于性能测试技术领域，公开了一种试样存储装置、试样性能测试系统及测试方法。本发明利用能随转动单元转动的存储单元装载试样并将试样移动至指定区域，并通过位置检测单元进行检测，能够极大地减少取样点数量，提高取样准确性。本发明通过控制装置控制...
该专利属于长飞光纤光缆股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长飞光纤光缆股份有限公司授权不得商用。

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