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本发明公开了一种DFB芯片四面检测设备及其检测方法，采取上料平台模组、侧面检测模组、下料平台模组、取料手模组、顶针模组、预检相机模组、下料歪斜检测模组、上料背面检测模组、正面检测模组、芯片平台模组、下料背面检测模组，实现对DFB芯片晶粒的四...
该专利属于深圳市智立方自动化设备股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市智立方自动化设备股份有限公司授权不得商用。

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