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一种高集成度采集卡校准验证工具制造技术
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下载一种高集成度采集卡校准验证工具的技术资料
文档序号:35366358
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本实用新型涉及电子测量技术领域,具体为一种高集成度采集卡校准验证工具,包括:高密度连接器、双刀同步通道控制开关A、双刀同步通道控制开关B、电压测量源和控制单元;双刀同步通道控制开关A设置有多组,且双刀同步通道控制开关A的输入端连接在高密度连...
该专利属于上海简仪科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海简仪科技有限公司授权不得商用。
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