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本发明公开了一种基于机器视觉与知识图谱的SMT产品缺陷分析系统，所述系统采用现有技术中的X射线成像技术、机器视觉、知识图谱和深度学习技术，其特征在于，包括顺序连接的操作对象、机器视觉识别单元、图片预处理单元、缺陷识别单元、缺陷分析单元和产品...
该专利属于桂林电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过桂林电子科技大学授权不得商用。

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