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本发明属于离子迁移谱领域，公开了一种高占空比离子迁移率分析装置及分析方法，包括：离子源、第一离子存储区域、第二离子存储区域、离子迁移率分析器。离子迁移率分析器包括第一、第二两个通道，通道内包含与离子迁移方向同轴的气流及与气流方向反向的直流电...
该专利属于株式会社岛津制作所所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社岛津制作所授权不得商用。

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