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一种半导体元器件高低压测试分选机制造技术
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文档序号:35249089
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本发明涉及元器件性能测试技术领域,并公开了一种半导体元器件高低压测试分选机,其包括上料机构、高压测试机构、分拣机构、高压不合格回收机构、供料机构、主转盘运料机构、副盘运料机构、低压测试站、打标装置、分类收集机构以及下料机构,一站式自动完成半...
该专利属于广东歌得智能装备有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过广东歌得智能装备有限公司授权不得商用。
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