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一种调焦调平测量方法及测量系统技术方案
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下载一种调焦调平测量方法及测量系统的技术资料
文档序号:35198896
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本公开提供一种调焦调平测量方法及测量系统,方法包括:光学光栅经光束照明成像于被测对象表面以形成光学光栅图案,所述光学光栅图案进一步反射到光学传感器的成像平面上;对光学传感器上像素点进行编码,以实现在像素点上对光强信号的保持或清除,形成数字光...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。
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