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本发明公开一种ID编码熔丝阵列烧熔方法，包括如下步骤：（10）烧熔前参数测试：测试芯片参数，剔除参数不合格的芯片；（20）编码导入：从TXT文件中取回事前写入的编码，并将所述编码导入到测试码；（30）跑测试码烧熔丝：跑测试码，当与待烧熔丝对...
该专利属于江苏万邦微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏万邦微电子有限公司授权不得商用。

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