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本发明提供一种基于光子转移曲线的自动化满阱测试方法。该方法实现CCD探测器满阱的自动化测量，基于光子转移曲线的相关理论，以及一套测试环境和测试软件。该方法用于在使用没有开发经验的探测器芯片，如CCD探测器进行成像电路的设计时，解决电路设计中...
该专利属于中国科学院合肥物质科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院合肥物质科学研究院授权不得商用。

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