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本申请涉及一种质子交换膜导电率测量方法、装置、设备、介质和产品。所述方法包括：通过铂网电极获取质子交换膜透膜方向的测量电压；铂网电极分别与质子交换膜两侧的表面接触；根据测量电压和预先获取到的频率响应曲线，确定质子交换膜透膜方向的导电率。采用...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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