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本发明公开了一种基于参数自适应的自动化测试方法，包括：步骤Ｓ３０２，测试装置提取与被测系统的第一测试环境相关的第一关键特性参数，根据第一关键特性参数生成测试用例以及与测试用例对应的测试模板；步骤Ｓ３０４，测试装置提取与被测系统的第二测试环境...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。

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