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本发明公开了一种电子元器件通用质量特性验证方法及装置，包括：根据用户需求从不同角度设计对应的验证指标，并对验证指标进行细化，以形成该电子元器件的通用质量特性应用验证体系；基于通用质量特性应用验证体系确定多个验证项目；为该验证项目确定对应的验...
该专利属于中国电子科技集团公司第十五研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第十五研究所授权不得商用。

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