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本申请提供一种钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统及方法，光源向待测钛扩散直波导芯片输入光后，待测钛扩散直波导芯片输出的光束经偏振控制器调节分别得到TE模式和TM模式，利用光功率计分别测量TE模式和TM模式的光功率，能够得到待测钛扩散直波导...
该专利属于北京世维通科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京世维通科技股份有限公司授权不得商用。

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