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本实用新型公开了一种半导体生产用晶棒性能连续测试架，涉及晶棒测试技术领域，包括支架、设置于支架顶部左前端的测试仪本体、通过立柱与支架顶部左后端的横板和滑动设置于横板下方的用于检测晶棒的上测板，晶棒为多个，分别固定于放置机构内，支架顶部右侧转...
该专利属于埃能洁（嘉兴）新材料有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过埃能洁（嘉兴）新材料有限公司授权不得商用。

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