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一种半导体测试用测试板制造技术
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文档序号:34658996
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本实用新型公开了一种半导体测试用测试板,涉及半导体测试技术领域,包括测试板主体、四个支撑腿和测试电路板,本实用新型中,关闭第一蓄电池,使电磁铁的磁性削弱,进而使抵触块受到缓冲弹簧的弹力进行水平移动,从而对半导体进行定位,而在定位的过程中可通...
该专利属于卞荣剑所有,仅供学习研究参考,未经过卞荣剑授权不得商用。
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