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本实用新型公开石英晶片外观缺陷检测装置，石英晶片外观缺陷检测装置包括检测装置主体，所述主体一侧设有若干夹持件，所述主体包括轨道、滑块和检测件，所述检测件为超声波检测设备，将所述检测件设置在所述滑块上，所述滑块滑动在所述轨道上，当所述夹持件上...
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