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武汉中导光电设备有限公司
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产品缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质制造方法及图纸
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文档序号:34645294
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本发明提供一种产品缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质。该方法包括:根据模板图像的纹理边界对所述模板图像进行连通域分析,得到所述模板图像的各个连通区域;基于各个连通区域中每个像素点的灰度值得到各个连通区域的检测超差阈值;根据各个连通区域的...
该专利属于武汉中导光电设备有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过武汉中导光电设备有限公司授权不得商用。
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