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本发明涉及闪速存储器技术领域，具体公开了一种用于测试闪速存储器的编程方法、装置及闪速存储器，其中，编程方法包括以下步骤：获取测试模式指令；根据所述测试模式指令生成奇偶位编程信息；根据所述奇偶位编程信息设定所述闪速存储器的页缓存电路的锁存数据...
该专利属于芯天下技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芯天下技术股份有限公司授权不得商用。

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