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本发明公开了一种用于含有碳碳双键的化合物的质谱分析方法，包括如下步骤：a)使轻、重质同位素标记试剂与目标分析物中的含有碳碳双键的化合物进行标记反应；b)对标记反应后的产物进行后处理后再进行质谱分析；其中的轻质同位素标记试剂为[d0]
该专利属于中国科学院上海有机化学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海有机化学研究所授权不得商用。

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