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本发明公开了一种OTDR曲线拼接方法、系统、装置及存储介质，包括：确定OTDR系统在最大测试条件下的动态范围，将动态范围平均分成若干个等级的测试条件，并分别对不同等级的测试条件进行测试以获取测试曲线；分别确定不同等级的测试曲线的第一有效拼接...
该专利属于高勘（广州）技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过高勘（广州）技术有限公司授权不得商用。

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