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本发明公开了一种测试设备、方法、装置及介质。由于根据被测芯片上需要测试的功能单元，确定了每个功能单元所对应的测试点和反馈点，后续通过测试设备的处理器生成待测试功能单元所需的第一电信号，将该第一电信号通过耦合单元传输至被测芯片的测试点，以对被...
该专利属于合肥欣奕华智能机器股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥欣奕华智能机器股份有限公司授权不得商用。

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