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本发明提供一种用于半导体器件瞬态热测试的电压采集方法、装置、系统及介质，所述半导体器件进入工作状态，其两端具有电压，等待开始所述瞬态热测试；用户根据所述半导体器件的实际电压值，在上位机中选择相应的参考电压值和电压量程；所述方法包括接收所述参...
该专利属于上海大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海大学授权不得商用。

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