下载一种用于特高频传感器性能校验的系统及方法的技术资料

文档序号:33336030

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本发明公开了一种用于特高频传感器性能校验的系统,其包括:吉赫兹横电磁波小室,其上设有馈源头和测量工位,测量工位用于放置待测的特高频传感器;吉赫兹横电磁波小室内设有芯板,且芯板与馈源头连接;矢量网络分析仪,其第一端口与馈源头连接,其第二端口与...
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