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本发明提供一种用于MPW产品测试数据自动区分归类的方法，在工作表对话框中设置MPW掩膜版设计排布的行列数；提供原始测试数据文件，包含MPW产品晶粒所对应的坐标；根据坐标获取行列最大值；根据行列最大值建立二维数组并初始化为0；将二维数组与坐标...
该专利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹宏力半导体制造有限公司授权不得商用。

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