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本发明公开了一种考虑测试不确定性的电路测点优选方法，通过构建测试不确定性的多信号模型，并给出该模型下由隔离率、检测率、测试代价、虚警率以及漏检率的优化目标函数和约束条件，然后利用多目标粒子群算法以测试代价，虚警率，漏检率作为优化目标，检测率...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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