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芯片输出特性的调整方法和装置制造方法及图纸
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文档序号:33300208
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本申请实施例提供了一种芯片输出特性的调整方法和装置,在对待测芯片的输出特性进行调整时,先根据各电可编程熔丝的状态确定待测芯片的输出特性是否已经进行过调整,并在确定该待测芯片的输出特性未经过调整时,根据待测芯片的输出表现在多个调整方案中,有针...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
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