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本实用新型公开了一种移动式芯片测试平台，包括：平台本体、测试面板及支撑架，所述平台本体上设置有保护槽，所述保护槽内侧滑动连接有测试面板，所述平台本体上对称设置有缓冲槽，所述缓冲槽内侧滑动设置有支撑架。本实用新型测试面板升降式安装在保护槽内侧...
该专利属于深圳市芯都半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市芯都半导体有限公司授权不得商用。

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