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本公开提出一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质，其中方法包括：确定芯片中的待验证模块，以及待验证模块的验证相关数据，其中，验证相关数据包括：模块配置数据、参考输入数据以及对应的参考输出数据；根据模块配置数据对待验证模块进行配置处理；将...
该专利属于北京爱芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京爱芯科技有限公司授权不得商用。

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