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本发明提供一种基于双波长激光的激光检测方法，包括以下步骤：(a)激发第一激光芯片，以使其向被探测物体发射一个第一激光，从而使所述第一激光能够被所述被探测物体反射和生成一个第一光信号；(b)激发第二激光芯片，以使其向被探测物体发射一个第二激光...
该专利属于武汉仟目激光有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉仟目激光有限公司授权不得商用。

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