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本发明公开了一种发热体的加热温度校准方法、装置及可读存储介质，其中，该发热体的加热温度校准方法包括：在对待测发热体进行测试加热时，获取所述待测发热体进行测试加热的初始测试温度；确定所述初始测试温度与所述待测发热体的预期温度是否存在温度差值；...
该专利属于深圳市基克纳科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市基克纳科技有限公司授权不得商用。

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