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本发明公开了一种存储芯片自动化测试系统及分选装置,包含芯片测试装置，用于测试存储芯片；动作机构，用于执行存储芯片自动化测试过程中的动作指令；工控模块，连接所述的芯片测试装置与所述的动作机构，用于控制所述芯片测试装置对存储芯片开展测试活动，以...
该专利属于深圳市宏旺微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市宏旺微电子有限公司授权不得商用。

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