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本发明公开了一种自动循环上电测试方法，涉及电子信息技术技术领域，解决了现有技术不能同时控制和检测测试设备上电断电的技术问题。该方法包括步骤：S100：控制设备向继电器处理设备发送通电请求；S200：继电器处理设备收到通电请求，闭合闸刀；S3...
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