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本发明涉及一种测试中消耗品的寿命预估方法、装置、设备及介质，涉及内存条生产测试量产领域，所述方法包括：对消耗品进行测试，得到所述消耗品的测试结果；若所述消耗品的测试结果为异常结果，判定所述消耗品为异常消耗品；获取多个所述异常消耗品的使用时间...
该专利属于深圳市金泰克半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市金泰克半导体有限公司授权不得商用。

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