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本实用新型公开了一种真空式集成电路检测装置，包括测试电路板，所述测试电路板上设有插座基座，插座基座内设有插座针模，插座针模内分布有测试探针，测试探针与测试电路板电连接，插座基座顶面盖设有插座压盖，插座压盖与测试探针之间形成容置集成电路的测试...
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