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本申请涉及芯片测试方法及系统。提供了一种芯片测试系统，所述芯片测试系统包括测试器和待测芯片，其中，所述待测芯片包括：VDD管脚，所述待测芯片通过所述VDD管脚从所述测试器接收供电信号并且基于所接收的供电信号生成所述待测芯片的内部复位信号以将...
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