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本发明公开了一种量子芯片测试方法和装置，应用于量子测控装置，包括：在接收到脉冲信号指令时，获得与脉冲信号指令对应的参数列表和波形列表；控制功能模块生成与参数列表和/或波形列表中的遍历控制数据对应的脉冲测试信号；向功能模块发送第一脉冲使能信号...
该专利属于合肥本源量子计算科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥本源量子计算科技有限责任公司授权不得商用。

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