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用于集成电路硬件设计的故障注入测试的方法和系统技术方案
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下载用于集成电路硬件设计的故障注入测试的方法和系统的技术资料
文档序号:32353999
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本发明涉及用于集成电路硬件设计的故障注入测试的方法和系统。该方法包括:(a)接收识别所述硬件设计的一个或多个故障节点的原始故障节点列表;(b)接收指示所述原始故障节点列表中的故障节点分组成多个故障节点组的信息,每个故障节点组包括对所述硬件设...
该专利属于想象技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过想象技术有限公司授权不得商用。
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