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本发明公开了一种RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法、装置及电子设备，其中方法包括：获取至少三个公版标签天线中每个公版标签天线的天线阻抗值和天线增益；依次获取多个芯片中每个芯片与至少三个公版标签天线相连后形成的至少三个标签中每个标签的标签灵敏...
该专利属于北京智芯半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京智芯半导体科技有限公司授权不得商用。

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