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等离子体CVD方法、氮化硅膜的形成方法和半导体装置的制造方法制造方法及图纸
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文档序号:3231890
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在使用等离子体处理装置,利用微波使导入处理室内的含氮气体和含硅气体等离子体化,通过该等离子体在被处理基板表面堆积氮化硅膜时,通过含氮气体的种类和处理压力的组合来控制形成的氮化硅膜的应力。上述等离子体处理装置利用具有多个隙缝的平面天线向处理室...
该专利属于东京毅力科创株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过东京毅力科创株式会社授权不得商用。
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