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一种通孔形成方法,包括:在半导体基底上形成接触层,所述半导体基底内已形成掺杂扩散区;在所述接触层上形成介质层;图形化所述介质层,以形成暴露部分接触层的接触孔;去除暴露的所述部分接触层的表层,剩余的所述部分接触层具有满足产品要求的厚度;填充所...该专利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中芯国际集成电路制造(上海)有限公司授权不得商用。
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一种通孔形成方法,包括:在半导体基底上形成接触层,所述半导体基底内已形成掺杂扩散区;在所述接触层上形成介质层;图形化所述介质层,以形成暴露部分接触层的接触孔;去除暴露的所述部分接触层的表层,剩余的所述部分接触层具有满足产品要求的厚度;填充所...