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形成半导体装置之金属接线的方法制造方法及图纸
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下载形成半导体装置之金属接线的方法的技术资料
文档序号:3221923
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一种用于形成一半导体装置之金属接线的方法,包括的步骤为:提供一半导体基片:形成一层间隔离用膜设置以一接触孔在该半导体基片上;形成一第一钛膜 该层间隔离用膜之形成后所得到的最终结果上方;形成一多重层在该第一钛膜上方,此多重层为由一第一钛氮化...
该专利属于现代电子产业株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过现代电子产业株式会社授权不得商用。
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